新闻中心 NEWS

行业资讯您所在的位置:首页 > 新闻中心 > 行业资讯

高低温试验能力验证常见不满意原因分析

发布时间:2019/12/10   来源:www.ruihongshiye.com

引言

鉴于能力验证计划实施开展的周期较长、不一定适时等原因, 测量审核和实验室间比对是能力验证的有效补充形式, 是实验室或者检查机构用于实验室质量控制及申请CNAS认可等的重要手段。CNAS-AL07:2011《CNAS能力验证领域和频次表》规定, 高低温试验所在子领域的最低参加频次要求是1次/2年, 即在没有适当、适时的常规能力验证计划开展的情况下, 实验室可以参加相应的测量审核和实验室间比对。一方面可以满足CNAS的频次要求, 另一方面可以加强实验室的质量控制。

CNAS-RL02:2010《能力验证规则》中指出, 测量审核是指一个参加者对被测物品 (材料或制品) 进行实际测试, 其测试结果与参考值进行比较的活动。 (注:测量审核是对一个参加者进行“一对一”能力评价的能力验证计划。) 实验室间比对是指按照预先规定的条件, 由两个或多个实验室对相同或相似的物品进行测量或检测的组织, 实施和评价。

本文旨在介绍高低温试验能力验证活动及找出导致高低温试验能力验证结果不满意的主要因素, 故随机抽取2010年~2012年低温试验测量审核与高温试验实验室间比对结果为不满意的报告各8份作为样本, 进行原因分析。

1 参加低温试验测量审核与高温试验实验室间比对实验室基本情况介绍

1.1 参加低温试验测量审核实验室基本情况介绍

为方便统计, 对8家实验室分别编号为D01, D02, D03, …, D08。抽取的8家实验室分布于4个省、直辖市, 条状分布图见图1所示。

本次随机抽取的8家实验室中, 已获CNAS认可的为1家, 占总数的12.5%, 未获得CNAS认可的为7家, 占总数的87.5%。

1.2 参加高温试验实验室间比对实验室基本情况介绍

为方便统计, 对这8家实验室分别编号为G01, G02, …, G08。抽取的8家实验室分布于4个省、直辖市, 条状分布图见图2所示。

图1 8家低温试验参加实验室地域分布条状图

图1 8家低温试验参加实验室地域分布条状图   

图2 8家高温试验参加实验室地域分布条状图

图2 8家高温试验参加实验室地域分布条状图   

本次随机抽取的8家实验室中, 已获CNAS认可的为2家, 占总数的25%, 未获得CNAS认可的为6家, 占总数的75%。

2 低温试验测量审核与高温试验实验室间比对试验说明及结果判定方法

2.1 低温试验测量审核试验说明及结果评价方法

(1) 低温试验测量审核依据GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》进行试验。试验测试示意图见图3所示。

试验要求供电电源:220V±5%~, 50Hz±1%, 电路导线横截面积:1.0mm2

实验步骤为:

步骤一:样品放置在试验箱外, 将样品感温探头放入试验箱中;

步骤二:接通电路, 开启试验箱, 从常温开始降温, 观察指示灯状态, 至指示灯熄灭, 记录指示灯熄灭瞬间样品的动作温度。

(2) 低温试验测量审核结果评价方法, 因为低温试用测量审核的样品是选用低温试验能力验证计划的剩样, 所以结果评价方法为:

其中:xLAB是参加实验室的结果;xREF是参考实验室的指定值 (源自低温试验能力验证计划的中位值) ; (35) 是允许差 (源自低温试验能力验证计划的2倍标准化四分位距) 。

此时, 用Z值法评定参加实验室能力|Z|≤1, 满意;1<|Z|<1.5有问题;|Z|≥1.5不满意。

图3 低温试验测量审核测试示意图

图3 低温试验测量审核测试示意图   

2.1 高温试验实验室间比对试验说明及结果评价方法

(1) 高温试验的参考标准是GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温》。试验测试示意图如图4所示。

试验供电电源:220V±5%~, 50Hz±1%, 建议电路导线横截面积£0.5mm2

实验步骤为:

步骤一:将整个温控器放入试验箱中;

步骤二:开启试验箱, 从常温开始升温, 至氖灯熄灭, 记录氖灯熄灭瞬间试验箱的温度。

(2) 高温试验实验室间比对结果评价方法。

  
图4 高温试验实验室间比对测试示意图

图4 高温试验实验室间比对测试示意图   

3 低温试验测量审核与高温试验实验室间比对常见不满意原因分析

3.1 低温试验测量审核 (降温速率) 及高温试验实验室间比对 (升温速率) 对测试结果的影响

按照GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温》的要求, 降温要求平均5min小于5℃。由表1可见, 在平均降温速度后标注▲的即为平均降温速率大于5℃/5min, 不难看出在随机抽取的8份不满意结果中, 共有5家平均降温速率大于5℃/5min, 占总数的62.5%。

按照GB/T 2423.2-2008《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温》的要求, 降温要求平均5min小于5℃。由表2可见, 在平均降温速度后标注▲的即为平均降温速率大于5℃/5min, 不难看出在随机抽取的8份不满意结果中, 共有5家平均降温速率大于5℃/5min, 占总数的62.5%。

表1 参加低温试验测量审核不满意实验室平均降温速率表     

表1 参加低温试验测量审核不满意实验室平均降温速率表

表2 参加高温试验实验室间比对不满意实验室平均降温速率表     

表2 参加高温试验实验室间比对不满意实验室平均降温速率表

通过对低温试验测量审核 (降温速率) 及高温试验实验室间比对 (升温速率) 的统计得知, 降温速率/升温速率是影响试验结果的重要因素, 参加高低温试验的实验室需要引起重视。

3.2 在进行低温试验测量审核与高温试验实验室间比对时, 均要求参加实验室提供试验中所使用的主要仪器设备即温度箱的校准证书。在随机抽取的16份不满意报告中, 有些实验室本应该在报告测试结果时结合温度箱的校准证书对测试结果进行修正, 但实际报告测试结果时未作修正, 从而导致了不满意结果的出现。

以上两点是造成低温试验测量审核与高温试验实验室间比对不满意的两个主要原因, 下面我们就其他可能影响试验结果的因素做以下分析。

3.3 实验室所选用的仪器设备对试验结果造成的影响

3.3.1 温度箱的有效容积对本次低温试验的结果会造成一些影响, 相对来讲, 箱体越小, 制冷效率会较高, 温度箱的均匀度也较好。大箱体的温度箱对设备的压缩机制冷量, 温度箱均匀度等都有较高的要求。另外, 在本次抽出的16份不满意报告中, 很多实验室感温探头在温度箱中的安装位置与箱体温度传感器的位置相隔较远, 所以极有可能是因为箱体的不均匀导致最后读取的温度值并不能作为感温探头所处位置的温度, 从而会导致结果的不满意。

3.3.2 对于一些旧的设备可能会出现温度箱温度不稳定或无法稳定, 也是导致最后结果不满意的一个因素。

3.4 目前在大多数温度箱中, 大部分都采用PT100铂电阻温度计对温度箱进行温度的采集和控制, 相对于热电偶而言, 铂电阻测温更加准确, 尤其对于大容积箱体采用铂电阻更为必要。

4 技术建议

(1) 高低温试验能力验证活动中, 低温试验的降温速率以及高温试验的升温速率均不能超过标准要求的平均5℃/5分钟, 以避免由于箱体温度变化过快带来的样品反应滞后或其他后果, 导致结果离群。

(2) 在进行低温试验测量审核与高温试验实验室间比对报出最后结果时, 需要结合温度箱的校准证书结果对测试结果进行修正, 而不是单纯的报出测试温度。

(3) 选取箱体自带温度显示进行数据读取时, 如果感温探头与箱体自带的温度传感器位置比较接近, 则读取的数据比较准确。

(4) 对于有条件的实验室, 建议进行温度读取时, 一方面可以采用箱体自带显示温度, 另一方面可以结合内布温度传感器外接数据采集器的方式, 以确保试验结果的准确性。

(5) 对于使用频次较高的试验箱, 需要定期开展设备的核查, 以保证在使用时设备是符合试验要求的。

上一条:高低温试验箱控制系统的设计
下一条:密度继电器高低温试验校验方法
相关产品

在线
客服

在线客服服务时间:9:00-24:00

客服
热线

15335270170
7*24小时客服服务热线

关注
微信

关注官方微信
顶部
Baidu
sogou